Instrumentação

Analisador Do Waveform Da Precisão - Agilent 86108A
Agilent anunciou o analisador do waveform da precisão 86108A, projetado para os coordenadores envolvidos na verificação do projeto e no validation de elétrico de alta velocidade [... ]
- fevereiro 4, 2008
Gerador De Sinal Análogo Da Microonda - Agilent N5183A MXG
Agilent anunciou o gerador de sinal análogo compacto da microonda de N5183A MXG, fornecendo a cobertura da freqüência até 20, 32 ou 40 gigahertz. [... ]
- fevereiro 4, 2008

Opção do teste de IPTV para o verificador de QuickTest 100 ADSL2+ - Vonaq
Vonaq anunciou o lançamento de sua opção do teste de IPTV para o verificador de QuickTest 100 ADSL2+, uma ferramenta diagnóstica handheld que [... ]
- janeiro 19, 2008
Verificador Handheld do ADSL - GAO2045
GAO Tek anunciou seu verificador handheld novo do ADSL GAO2045. Este dispositivo da medida fornece um processo altamente simplificado: os operadores necessitam simplesmente [... ]
- outubro 22, 2007
Keithley modela 2635 e 2636 instrumentos para a análise e testar paramétricos do semicondutor
Os instrumentos de Keithley anunciaram seus dispositivos novos da instrumentação para a análise e testar paramétricos do semicondutor. Os modelos novos 2635 e modelo 2636 [... ]
- setembro 16, 2007
Integridade de sinal do plugue & do jogo de Altera para Stratix II GX FPGA
Altera introduziu sua tecnologia da integridade de sinal do plugue & do jogo, que redefine o uso de FPGA em sistemas high-performance permitindo um único [... ]
- setembro 12, 2007
Placa de carga avançada do cartão do mezzanine de Elma (AMC) para testar sistemas de MicroTCA
Elma liberou uma placa de carga avançada nova do cartão do mezzanine (AMC) para testar refrigerar e o poder de MicroTCA [... ]
- setembro 4, 2007
Solução Encaixada ETSerdes Do Teste De SerDes - LogicVision
LogicVision introduziu o ETSerdes, uma liberação nova de sua solução encaixada do teste de SerDes. A liberação nova fornece umas medidas mais exatas [... ]
- setembro 4, 2007
Aplicação do teste da conformidade de Agilent U7231A DDR3 para osciloscópios de Infiniium
Agilent introduziu a aplicação do teste da conformidade de U7231A DDR3 para osciloscópios da série de Infiniium 54850 e 80000. Esta aplicação caracteriza avançado [... ]
- agosto 31, 2007
Estágio Mini Da Tradução M-122 - Physik Instrumente
Physik Instrumente (PI) introduziu seu estágio mini da tradução M-122. O M-122 caracteriza um space-saving, trem dobrado da movimentação com o servo [... ]
- agosto 24, 2007
Software Do Gerador Do Waveform De SignalMeister - Instrumentos De Keithley
Os instrumentos de Keithley liberaram o SignalMeister, uma ferramenta livre do software para criar as limas do waveform que podem downloaded a Keithley [... ]
- agosto 21, 2007
Microplaqueta Automatizada Análoga Da Compensação Da Temperatura - Microbridge MBT-303-A Rejustor
As tecnologias de Microbridge introduziram recentemente o divisor eletrônico (análogo) passivo novo da compensação da temperatura (etc.) que chamou o rejustor de MBT-303-A (resistor re-ajustável). O novo [... ]
- agosto 16, 2007
Solução Do Teste Da Conformidade De DisplayPort - Agilent
Agilent introduziu recentemente sua solução do teste da conformidade da fonte de DisplayPort. A solução nova é projetada para o uso pelo teste da conformidade de DisplayPort [... ]
- agosto 15, 2007
Pacote da extração de HVMOS para a plataforma do software de IC-CAP - Agilent
Agilent liberou seu pacote novo da extração de HVMOS, uma solução da extração do parâmetro para (alta tensão) o semicondutor complementar de alta tensão do óxido de metal [... ]
- agosto 15, 2007
Módulos novos de PXIT para o manufacturing ótico do transceptor - Agilent
Agilent introduziu seus módulos novos de PXIT para o manufacturing ótico do transceptor, oferecendo um verificador combinado da relação de erro de bocado (BERT) e Digital [... ]
- agosto 8, 2007
Sistema high-Resolution de Nanopositioning e de exploração - P-733.3CD - Physik Instrumente
Physik Instrumente (PI) introduziu seu sistema nano-posicionando & fazendo a varredura de P-733.3CD novo, de um XYZ high-resolution projetado para o microscopy de alta resolução, materiais [... ]
- agosto 3, 2007
microscópio high-Resolution de Digital do iVista para testar do Wafer-Nível - SUSS MicroTec
SUSS MicroTec lançou o microscópio high-Resolution de Digital do iVista, entregando a resoluçã0 e as ferramentas do software necessárias para aplicações testando do wafer-nível [... ]
- julho 23, 2007
Solução do optimization de Agilent WiMAX para IEEE 802.16e-2005 (WiMAX móvel)
Agilent anunciou sua solução do optimization de WiMAX para IEEE 802.16e-2005 (sabido também como WiMAX móvel ou IEEE 802.16e), baseada no [... ]
- junho 29, 2007
Solução de Verigy V93000 Nanoelectronics para 65nm e Digital menor ICs
Verigy introduziu a solução de V93000 Nanoelectronics Digital, fornecendo dados diagnósticos e paramétricos exatos para o teste estrutural e funcional para o wafer [... ]
- junho 27, 2007
Toolkit da verificação da integridade de sinal para plataforma avançada do sistema de projeto (ADS) EDA - Agilent
Agilent anunciou o toolkit integrado da verificação para o projeto da integridade de sinal, porque o uso com sistema de projeto avançado de Agilent (ADS) EDA [... ]
- junho 26, 2007

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