Microplaqueta, Semicondutor

Keithley modela 2635 e 2636 instrumentos para a análise e testar paramétricos do semicondutor
Os instrumentos de Keithley anunciaram seus dispositivos novos da instrumentação para a análise e testar paramétricos do semicondutor. Os modelos novos 2635 e modelo 2636 [... ]
- setembro 16, 2007
Tecnologia Imprimindo da IBM Nanoscale
Os investigadores da IBM e do ETH Zurique introduziram uma técnica imprimindo do nanoscale novo, que permitem cientistas de colocar precisamente partículas individuais onde [... ]
- setembro 12, 2007

Pacote da extração de HVMOS para a plataforma do software de IC-CAP - Agilent
Agilent liberou seu pacote novo da extração de HVMOS, uma solução da extração do parâmetro para (alta tensão) o semicondutor complementar de alta tensão do óxido de metal [... ]
- agosto 15, 2007
Sistema high-Resolution de Nanopositioning e de exploração - P-733.3CD - Physik Instrumente
Physik Instrumente (PI) introduziu seu sistema nano-posicionando & fazendo a varredura de P-733.3CD novo, de um XYZ high-resolution projetado para o microscopy de alta resolução, materiais [... ]
- agosto 3, 2007
Numonyx, o Novo Semicondutor Companhia criada por sócios de Intel, de STMicroelectronics e de Francisco
Intel, STMicroelectronics e os sócios de Francisco unveiled o nome de companhia de Numonyx para a companhia independente pendente do semicondutor anunciada em maio [... ]
- julho 23, 2007
microscópio high-Resolution de Digital do iVista para testar do Wafer-Nível - SUSS MicroTec
SUSS MicroTec lançou o microscópio high-Resolution de Digital do iVista, entregando a resoluçã0 e as ferramentas do software necessárias para aplicações testando do wafer-nível [... ]
- julho 23, 2007
Topography De superfície De 45nm Que Perfila O Sistema - KLA-Tencor HRP-350
KLA-Tencor introduziu HRP-350, um topography 45nm de superfície que perfila o sistema, caracterizando estiletes do diamante para baixo ao raio de 20nm e a uma plataforma do baixo-ruído [... ]
- julho 16, 2007
arquitetura periférica Braço-baseada do subsistema - eSilicon
o eSilicon anunciou uma arquitetura periférica Braço-baseada nova do subsistema, que fosse construída em torno dos processadores de ARM7TDMI e de ARM926EJ, apropriada para [... ]
- julho 6, 2007
Solução de Verigy V93000 Nanoelectronics para 65nm e Digital menor ICs
Verigy introduziu a solução de V93000 Nanoelectronics Digital, fornecendo dados diagnósticos e paramétricos exatos para o teste estrutural e funcional para o wafer [... ]
- junho 27, 2007
Plataforma virtual de DesignWare VPXA3 para Marvell PXA3xx XScale - Synopsys
Synopsys anunciou a disponibilidade da plataforma virtual de DesignWare VPXA3. As plataformas virtuais melhoram a qualidade do projeto e encurtam o tempo-à-mercado perto [... ]
- junho 21, 2007
Sistemas de ASIC Prototyping - CHIPit - Projeto Pro
O projeto pro anunciou (Mei 2007) o lançamento de sua série de CHIPit V5, o gen seguinte de sua família de produto de CHIPit. [... ]
- junho 15, 2007
plataforma SoC do projeto de 45nm CMOS para a eletrônica de consumidor wireless e portátil - STMicroelectronics
STMicroelectronics unveiled detalhes de sua plataforma do projeto de 45nm CMOS para a Sistema-em-Microplaqueta seguinte-next-gen (SoC), alvejada para a eletrônica de consumidor wireless e portátil. [... ]
- junho 14, 2007
O alliance comum da plataforma anunciou os modelos de 45nm DFM (projeto para o manufacturing)
IBM, fretado e Samsung, três companhias do alliance comum da tecnologia da plataforma anunciaram a disponibilidade de modelos da tecnologia do projet-para-design-for-manufacturing (DFM), [... ]
- junho 8, 2007
Programa Manual Do Catalizador Da Metodologia Da Verificação (VMM) - Synopsys
Synopsys anunciou seu programa manual do catalizador da metodologia da verificação (VMM) para promover acelera adoption difundido do VMM indústria-conduzindo para [... ]
- junho 6, 2007
A IBM anunciou o silicone dos 45-45-nm ASIC do desempenho Cu-45 elevado no isolador (SOI)
A IBM anunciou sua microplaqueta feita sob encomenda de desempenho Cu-45 elevado (ASIC), desenvolvida baseado no silicone dos 45-45-nm da IBM na tecnologia do isolador (SOI). Isto [... ]
- junho 6, 2007
Verificação de ASIC e de ASSP - plataforma de Confirma - Synplicity
Synplicity unveiled a plataforma de Confirma, a solução de uma verificação de ASIC e de ASSP. As ofertas da plataforma de Confirma trazem junto a ferragem e o software [... ]
- junho 5, 2007
microplaqueta Braço-baseada no silicone de UMC’s 65nm no processo do isolador (SOI)
UMC e o BRAÇO anunciaram que uma microplaqueta do teste construída com as bibliotecas do BRAÇO SOI (silicone no isolador) estêve gravada-para fora com sucesso sobre [... ]
- junho 5, 2007
Fluxo 8.0 da referência das sustentações TSMC de Synopsys para o projeto de 45nm
Sustentação de Synopsys para o fluxo da referência de TSMC tecnologias process de 8.0 e de 45nm. Synopsys está suportando o fluxo 8.0 da referência em sua galáxia [... ]
- junho 5, 2007
O cadence acelera o fluxo 8.0 da referência de TSMC para o projeto de 45nm
O cadence está fornecendo as potencialidades chaves ao fluxo 8.0 da referência de TSMC (Formosa Semicondutor Manufacturing Companhia). O projeto novo dos endereços do fluxo da referência [... ]
- junho 5, 2007
TSMC introduz o fluxo 8.0 da referência para o projeto process de 45nm
Formosa Semicondutor Manufacturing Companhia, Ltd., (TSMC) introduziu o fluxo 8.0 da referência, a geração a mais atrasada do produto da metodologia de projeto de TSMC. Fluxo Da Referência [... ]
- junho 5, 2007

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