Instrumentation

Analyseur De Forme d'onde De Précision - Agilent 86108A
Agilent a annoncé l'analyseur de forme d'onde de la précision 86108A, conçu pour des ingénieurs impliqués dans la vérification de conception et la validation de élém. élect. à grande vitesse [... ]
- février 4, 2008
Générateur De Signal analogue De Micro-onde - Agilent N5183A MXG
Agilent a annoncé le générateur compact de signal analogue de micro-onde de N5183A MXG, fournissant l'assurance de fréquence jusqu'à 20, 32 ou 40 gigahertz. [... ]
- février 4, 2008

Option d'essai d'IPTV pour l'appareil de contrôle de QuickTest 100 ADSL2+ - Vonaq
Vonaq a annoncé le lancement de son option d'essai d'IPTV pour l'appareil de contrôle de QuickTest 100 ADSL2+, un outil diagnostique tenu dans la main qui [... ]
- janvier 19, 2008
Appareil de contrôle Tenu dans la main d'ADSL - GAO2045
GAO Tek a annoncé son nouvel appareil de contrôle tenu dans la main d'ADSL GAO2045. Ce dispositif de mesure fournit un processus fortement simplifié : les opérateurs ont besoin simplement [... ]
- octobre 22, 2007
Keithley modèle 2635 et 2636 instruments pour l'analyse et l'essai paramétriques de semi-conducteur
Les instruments de Keithley ont annoncé ses nouveaux dispositifs d'instrumentation pour l'analyse et l'essai paramétriques de semi-conducteur. Les nouveaux models 2635 et model 2636 [... ]
- septembre 16, 2007
Intégrité de signal de prise et de jeu d'Altera pour Stratix II GX FPGA
Altera a présenté sa technologie d'intégrité de signal de prise et de jeu, qui redéfinit l'utilisation de FPGA dans les systèmes à rendement élevé en permettant un simple [... ]
- septembre 12, 2007
Panneau de charge avançé de la carte de Mezzanine d'Elma (AMC) pour examiner des systèmes de MicroTCA
Elma a libéré un nouveau panneau de charge avançé de la carte de Mezzanine (AMC) pour examiner le refroidissement et la puissance de MicroTCA [... ]
- septembre 4, 2007
Solution D'Essai De SerDes Incluse Par ETSerdes - LogicVision
LogicVision a présenté l'ETSerdes, un nouveau dégagement de son solution incluse d'essai de SerDes. Le nouveau dégagement fournit des mesures plus précises [... ]
- septembre 4, 2007
Demande d'essai de conformité d'Agilent U7231A DDR3 d'oscilloscopes d'Infiniium
Agilent a présenté la demande d'essai de conformité d'U7231A DDR3 d'oscilloscopes de série d'Infiniium 54850 et 80000. Cette application comporte avançé [... ]
- août 31, 2007
Mini Étape De la Traduction M-122 - Physik Instrumente
Physik Instrumente (pi) a présenté sa mini étape de la traduction M-122. Le M-122 comporte une économie de l'espace, train plié d'entraînement avec le servo [... ]
- août 24, 2007
Logiciel De Générateur De Forme d'onde De SignalMeister - Instruments De Keithley
Les instruments de Keithley a libéré le SignalMeister, un outil libre de logiciel pour créer les dossiers de forme d'onde qui peuvent être téléchargés à Keithley [... ]
- août 21, 2007
Morceau Automatisé Analogue De Compensation De la Température - Microbridge MBT-303-A Rejustor
Les technologies de Microbridge ont récemment présenté le nouveau diviseur électronique (analogue) passif de la compensation de la température (etc..) qui a appelé le rejustor de MBT-303-A (résistance re-réglable). Le nouveau [... ]
- août 16, 2007
Solution D'Essai De Conformité De DisplayPort - Agilent
Agilent a récemment présenté sa solution d'essai de conformité de source de DisplayPort. La nouvelle solution est conçue à l'usage de l'essai de conformité de DisplayPort [... ]
- août 15, 2007
Paquet d'extraction de HVMOS pour la plateforme de logiciel d'IC-CAP - Agilent
Agilent a libéré son nouveau paquet d'extraction de HVMOS, une solution d'extraction de paramètre pour (HT) le semi-conducteur complémentaire à haute tension d'oxyde de métal [... ]
- août 15, 2007
Nouveaux modules de PXIT pour la fabrication optique d'émetteur récepteur - Agilent
Agilent a présenté ses nouveaux modules de PXIT pour la fabrication optique d'émetteur récepteur, offrant un appareil de contrôle combiné de rapport d'erreur de bit (BERT) et Digital [... ]
- août 8, 2007
Système à haute résolution de Nanopositioning et de balayage - P-733.3CD - Physik Instrumente
Physik Instrumente (pi) a présenté son nouveau P-733.3CD, un XYZ à haute résolution nano-positioning et le système de balayage conçu pour la microscopie de haute résolution, matériaux [... ]
- août 3, 2007
microscope à haute résolution de Digital d'iVista pour l'essai de Gaufrette-Niveau - SUSS MicroTec
SUSS MicroTec a lancé le microscope à haute résolution de Digital d'iVista, livrant la haute résolution et les outils de logiciel nécessaires pour des applications d'essai de gaufrette-niveau [... ]
- juillet 23, 2007
Solution d'optimisation d'Agilent WiMAX pour IEEE 802.16e-2005 (WiMAX mobile)
Agilent a annoncé sa solution d'optimisation de WiMAX pour IEEE 802.16e-2005 (également connu sous le nom de WiMAX mobile ou IEEE 802.16e), basée sur [... ]
- juin 29, 2007
Solution de Verigy V93000 Nanoelectronics pour 65nm et plus petite Digital ICs
Verigy a présenté la solution de V93000 Nanoelectronics Digital, fournissant des données diagnostiques et paramétriques précises pour l'essai structural et fonctionnel pour la gaufrette [... ]
- juin 27, 2007
Trousse à outils de vérification d'intégrité de signal pour la plateforme avançée du système de conception (ADS) EDA - Agilent
Agilent a annoncé la Trousse à outils intégrée de vérification pour la conception d'intégrité de signal, parce que l'utilisation avec le système de conception avancé d'Agilent (ADS) EDA [... ]
- juin 26, 2007

Instrumentation

RÉFÉRENCE

RECHERCHE

INTÉRÊT