Instrumentación

Analizador de la forma de onda de la precisión - Agilent 86108A
Agilent anunció el analizador de la forma de onda de la precisión 86108A, diseñado para los ingenieros implicados en la verificación del diseño y la validación de alta velocidad eléctricos de [...]
- 4 de febrero de 2008
Generador de señal analógica de la microonda - Agilent N5183A MXG
Agilent anunció el generador de señal analógica compacto de la microonda de N5183A MXG, proporcionando cobertura de la frecuencia hasta 20, 32 o 40 gigahertz. [...]
- 4 de febrero de 2008

Opción de la prueba de IPTV para el probador de QuickTest 100 ADSL2+ - Vonaq
Vonaq anunció el lanzamiento de su opción de la prueba de IPTV para el probador de QuickTest 100 ADSL2+, una herramienta de diagnóstico handheld que [...]
- 19 de enero de 2008
Probador Handheld del ADSL - GAO2045
El GAO Tek anunció su nuevo probador handheld del ADSL GAO2045. Este dispositivo de la medida proporciona un proceso altamente simplificado: necesidad simplemente [...] de los operadores
- 22 de octubre de 2007
Keithley modela 2635 y 2636 instrumentos para el análisis paramétrico y la prueba del semiconductor
Los instrumentos de Keithley anunciaron sus nuevos dispositivos de la instrumentación para el análisis paramétrico y la prueba del semiconductor. Los modelos nuevos 2635 y modelo 2636 [...]
- 16 de septiembre de 2007
Integridad de señal del enchufe y del juego de Altera para Stratix II GX FPGA
Altera introdujo su tecnología de la integridad de señal del enchufe y del juego, que redefine uso de FPGA en sistemas de alto rendimiento permitiendo solos [...]
- 12 de septiembre de 2007
Elma avanzó el tablero de carga de la tarjeta del entresuelo (AMC) para probar los sistemas de MicroTCA
Elma ha lanzado un nuevo tablero de carga avanzado de la tarjeta del entresuelo (AMC) para probar el enfriamiento y la energía de MicroTCA [...]
- 4 de septiembre de 2007
ETSerdes encajó la solución de la prueba de SerDes - LogicVision
LogicVision introdujo el ETSerdes, un nuevo lanzamiento de su solución encajada de la prueba de SerDes. El nuevo lanzamiento proporciona medidas más exactas [...]
- 4 de septiembre de 2007
Uso de prueba de conformidad de Agilent U7231A DDR3 para los osciloscopios de Infiniium
Agilent introdujo el uso de prueba de conformidad de U7231A DDR3 para los osciloscopios de la serie de Infiniium 54850 y 80000. Este uso ofrece avanzados [...]
- 31 de agosto de 2007
Mini etapa de la traducción M-122 - Physik Instrumente
Physik Instrumente (pi) ha introducido su mini etapa de la traducción M-122. El M-122 ofrece un ahorro de espacio, tren doblado de la impulsión con servos los [...]
- 24 de agosto de 2007
Software del generador de forma de onda de SignalMeister - instrumentos de Keithley
Los instrumentos de Keithley han lanzado el SignalMeister, una herramienta de software libre para crear los archivos de la forma de onda que se pueden transferir a [...] de Keithley
- 21 de agosto de 2007
Viruta automatizada análoga de la remuneración de temperatura - Microbridge MBT-303-A Rejustor
Las tecnologías de Microbridge introdujeron recientemente el nuevo divisor electrónico (análogo) pasivo de la remuneración de temperatura (etc) que llamó el rejustor de MBT-303-A (resistor re-ajustable). Los nuevos [...]
- 16 de agosto de 2007
Solución de la prueba de conformidad de DisplayPort - Agilent
Agilent introdujo recientemente su solución de la prueba de conformidad de la fuente de DisplayPort. La nueva solución se diseña para uso de la prueba de conformidad de DisplayPort [...]
- 15 de agosto de 2007
Paquete de la extracción de HVMOS para la plataforma de programación de IC-CAP - Agilent
Agilent ha lanzado su nuevo paquete de la extracción de HVMOS, una solución de la extracción del parámetro para (alto voltaje) el semiconductor de óxido de metal complementario de alto voltaje [...]
- 15 de agosto de 2007
Nuevos módulos de PXIT para la fabricación óptica del transmisor-receptor - Agilent
Agilent introdujo sus nuevos módulos de PXIT para la fabricación óptica del transmisor-receptor, ofreciendo un probador combinado del cociente de error de pedacito (BERT) y Digitaces [...]
- 8 de agosto de 2007
Sistema de alta resolución de Nanopositioning y de la exploración - P-733.3CD - Physik Instrumente
Physik Instrumente (pi) introdujo su nuevo sistema de nano-colocación y de exploración de P-733.3CD, de un XYZ de alta resolución diseñado para la microscopia de alta resolución, materiales [...]
- 3 de agosto de 2007
microscopio de alta resolución para la prueba del Oblea-Nivel - SUSS MicroTec de Digitaces del iVista
SUSS MicroTec ha lanzado el microscopio de alta resolución de Digitaces del iVista, entregando la alta resolución y las herramientas de software necesarias para los usos de prueba del oblea-nivel [...]
- 23 de julio de 2007
Solución de la optimización de Agilent WiMAX para IEEE 802.16e-2005 (WiMAX móvil)
Agilent anunció su solución de la optimización de WiMAX para IEEE 802.16e-2005 (también conocido como WiMAX móvil o IEEE 802.16e), basada en los [...]
- 29 de junio de 2007
Solución de Verigy V93000 Nanoelectronics para 65nm y Digitaces más pequeñas ICs
Verigy introdujo la solución de V93000 Nanoelectronics Digital, proporcionando los datos de diagnóstico y paramétricos exactos para la prueba estructural y funcional para la oblea [...]
- 27 de junio de 2007
Juego de herramientas de la verificación de la integridad de señal para la plataforma avanzada del sistema de diseño (ADS) EDA - Agilent
Agilent anunció el juego de herramientas integrado de la verificación para el diseño de la integridad de señal, porque el uso con el sistema de diseño avanzado de Agilent (ADS) EDA [...]
- 26 de junio de 2007

Instrumentación

REFERENCIA

BÚSQUEDA

INTERÉS