Viruta, Semiconductor

Keithley modela 2635 y 2636 instrumentos para el análisis y la prueba paramétricos del semiconductor
Los instrumentos de Keithley anunciaron sus nuevos dispositivos de la instrumentación para el análisis y la prueba paramétricos del semiconductor. Los nuevos modelos 2635 y modelo 2636 [... ]
- de septiembre el 16 de 2007
Tecnología De Impresión de la IBM Nanoscale
Los investigadores de la IBM y de ETH Zurich introdujeron una técnica de impresión del nuevo nanoscale, que permiten a científicos poner partículas individuales exacto donde [... ]
- de septiembre el 12 de 2007

Paquete de la extracción de HVMOS para la plataforma del software de IC-CAP - Agilent
Agilent ha lanzado su nuevo paquete de la extracción de HVMOS, una solución de la extracción del parámetro para (alto voltaje) el semiconductor complementario de alto voltaje del óxido de metal [... ]
- de agosto el 15 de 2007
Sistema de alta resolución de Nanopositioning y de la exploración - P-733.3CD - Physik Instrumente
Physik Instrumente (pi) introdujo su sistema de nano-colocacio'n y de exploración de P-733.3CD nuevo, de un XYZ de alta resolución diseñado para la microscopia de alta resolución, materiales [... ]
- de agosto el 3 de 2007
Numonyx, el New Semiconductor Company creada por los socios de Intel, de STMicroelectronics y de Francisco
Intel, STMicroelectronics y los socios de Francisco revelaron el nombre de compañía de Numonyx para la compañía independiente pendiente del semiconductor anunciada el mayo [... ]
- de julio el 23 de 2007
microscopio de alta resolución de Digital del iVista para la prueba del Oblea-Nivel - SUSS MicroTec
SUSS MicroTec ha lanzado el microscopio de alta resolución de Digital del iVista, entregando la alta resolución y las herramientas del software necesarias para los usos de prueba del oblea-nivel [... ]
- de julio el 23 de 2007
Topografía Superficial De los 45nm Que perfila El Sistema - KLA-Tencor HRP-350
KLA-Tencor introdujo HRP-350, una topografía los 45nm superficial que perfilaba el sistema, ofreciendo las agujas del diamante abajo hasta el radio de los 20nm y una plataforma del bajo-ruido [... ]
- de julio el 16 de 2007
arquitectura periférica Brazo-basada del subsistema - eSilicon
el eSilicon ha anunciado una nueva arquitectura periférica Brazo-basada del subsistema, que se construye alrededor de los procesadores de ARM7TDMI y de ARM926EJ, conveniente para [... ]
- de julio el 6 de 2007
Solución de Verigy V93000 Nanoelectronics para los 65nm y una Digital más pequeña ICs
Verigy introdujo la solución de V93000 Nanoelectronics Digital, proporcionando los datos de diagnóstico y paramétricos exactos para la prueba estructural y funcional para la oblea [... ]
- de junio el 27 de 2007
Plataforma virtual de DesignWare VPXA3 para Marvell PXA3xx XScale - Synopsys
Synopsys anunció la disponibilidad de la plataforma virtual de DesignWare VPXA3. Las plataformas virtuales mejoran calidad del diseño y acortan el tiempo-a-mercado cerca [... ]
- de junio el 21 de 2007
Sistemas de ASIC Prototyping - CHIPit - Favorable Diseño
El favorable diseño anunció (Mei 2007) el lanzamiento de su serie de CHIPit V5, la GEN siguiente de su familia de producto de CHIPit. [... ]
- de junio el 15 de 2007
plataforma SoC del diseño de los 45nm Cmos para la electrónica de consumidor sin hilos y portable - STMicroelectronics
STMicroelectronics reveló los detalles de su plataforma del diseño de los 45nm Cmos para la Sistema-en-Viruta siguiente-GEN (SoC), apuntada para la electrónica de consumidor sin hilos y portable. [... ]
- de junio el 14 de 2007
La alianza común de la plataforma anunció los modelos de los 45nm DFM (diseño para la fabricación)
IBM, cargado y Samsung, tres compañías de alianza común de la tecnología de la plataforma anunciaron la disponibilidad de los modelos de la tecnología de la diseñar-para-fabricacio'n (DFM), [... ]
- de junio el 8 de 2007
Programa Manual Del Catalizador De la Metodología De la Verificación (VMM) - Synopsys
Synopsys anunció su programa manual del catalizador de la metodología de la verificación (VMM) para fomentar acelera la adopción extensa de el VMM industria-que conduci'a para [... ]
- de junio el 6 de 2007
La IBM anunció el silicio de los 45-45-nm ASIC del alto rendimiento Cu-45 en el aislador (SOI)
La IBM anunció su viruta de encargo del alto rendimiento Cu-45 (ASIC), desarrollada basado en el silicio de los 45-45-nm de la IBM en tecnología del aislador (SOI). Esto [... ]
- de junio el 6 de 2007
Verificación de ASIC y de ASSP - plataforma de Confirma - Synplicity
Synplicity reveló la plataforma de Confirma, la solución de una verificación de ASIC y de ASSP. Las ofertas de la plataforma de Confirma reúnen el hardware y el software [... ]
- de junio el 5 de 2007
viruta Brazo-basada en el silicio de UMC’s los 65nm en proceso del aislador (SOI)
UMC y el BRAZO anunciaron que una viruta de la prueba construida con las bibliotecas del BRAZO SOI (silicio en aislador) fue grabada-hacia fuera con éxito encendido [... ]
- de junio el 5 de 2007
Flujo 8.0 de la referencia de las ayudas TSMC de Synopsys para el diseño de los 45nm
Ayuda de Synopsys para el flujo de la referencia de TSMC tecnologías de proceso de 8.0 y de los 45nm. Synopsys está apoyando el flujo 8.0 de la referencia en su galaxia [... ]
- de junio el 5 de 2007
La cadencia acelera el flujo 8.0 de la referencia de TSMC para el diseño de los 45nm
La cadencia está proporcionando las capacidades dominantes al flujo 8.0 de la referencia de TSMC (Taiwán Semiconductor Manufacturing Company). El nuevo diseño de las direcciones del flujo de la referencia [... ]
- de junio el 5 de 2007
TSMC introduce el flujo 8.0 de la referencia para el diseño de proceso de los 45nm
Taiwán Semiconductor Manufacturing Company, Ltd., (TSMC) introdujo el flujo 8.0, la generación más última de la referencia del producto de la metodología de diseño de TSMC. Flujo De la Referencia [... ]
- de junio el 5 de 2007

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