Instrumentenausrüstung

Präzision Wellenform-Analysator - Agilent 86108A
Agilent verkündete den Präzision 86108A Wellenformanalysator, konzipiert für die Ingenieure, die mit Designüberprüfung und Gültigkeitserklärung von Schnellelektrischem beschäftigt ge$$$WESEN wurden [... ]
- Februar 4, 2008
Mikrowelle Analogsignal-Generator - Agilent N5183A MXG
Agilent verkündete den N5183A MXG kompakten Mikrowelle Analogsignal-Generator und stellte Frequenzdeckung bis zu 20, 32 oder 40 Gigahertz bereit. [... ]
- Februar 4, 2008

IPTV Test-Wahl für QuickTest 100 ADSL2+ Prüfvorrichtung - Vonaq
Vonaq verkündete die Produkteinführung seiner IPTV Test-Wahl für die QuickTest 100 ADSL2+ Prüfvorrichtung, ein Handdiagnosewerkzeug, das [... ]
- Januar 19, 2008
Hand-ADSL Prüfvorrichtung - GAO2045
GAO Tek verkündete seine neue Hand-ADSL GAO2045 Prüfvorrichtung. Diese Maßvorrichtung liefert einen in hohem Grade vereinfachten Prozeß: Operatoren benötigen einfach [... ]
- Oktober 22, 2007
Keithley modelliert 2635 und 2636 Instrumente für die Halbleiter-parametrische Analyse und Prüfung
Keithley Instrumente verkündeten seine neuen Instrumentenausrüstung Vorrichtungen für die parametrische Analyse und Prüfung des Halbleiters. Die neuen Modelle 2635 und Modell 2636 [... ]
- September 16, 2007
Altera Stecker-u. Spiel-Signal-Vollständigkeit für Stratix II GX FPGA
Altera stellte seine Stecker-u. Spiel-Signal-Vollständigkeit Technologie vor, die FPGA Gebrauch in den leistungsstarken Systemen neu definiert, indem es ein einzelnes ermöglicht [... ]
- September 12, 2007
Elma vorgerückter Mezzanine-Karte (AMC) Ladungsträger für die Prüfung der MicroTCA Systeme
Elma hat einen neuen vorgerückten Mezzanine-Karte (AMC) Ladungsträger für die Prüfung des Abkühlens und der Energie von MicroTCA freigegeben [... ]
- September 4, 2007
ETSerdes Eingebettete SerDes Test-Lösung - LogicVision
LogicVision führte das ETSerdes, eine neue Freigabe seiner eingebetteten SerDes Testlösung ein. Die neue Freigabe liefert genauere Maße [... ]
- September 4, 2007
Agilent U7231A DDR3 Befolgung-Test-Anwendung für Infiniium Oszillographen
Agilent stellte die U7231A DDR3 Befolgung-Test-Anwendung für Infiniium 54850 und 80000 Reihe Oszillographen vor. Diese Anwendung kennzeichnet vorgerücktes [... ]
- August 31, 2007
Miniübersetzung M-122 Stadium - Physik Instrumente
Physik Instrumente (PU) hat sein Miniübersetzung M-122 Stadium vorgestellt. Das M-122 kennzeichnet eine Raumersparnis, gefalteten Antrieb Zug mit dem Servo [... ]
- August 24, 2007
SignalMeister Wellenform-Generator-Software - Keithley Instrumente
Keithley Instrumente hat das SignalMeister, ein freies Software-Werkzeug freigegeben, um Wellenformakten herzustellen, die zu Keithleys downloadet werden können [... ]
- August 21, 2007
Analoger Automatisierter Temperatur-Ausgleich Span - Microbridge MBT-303-A Rejustor
Microbridge Technologien stellten vor kurzem neuen passiven (analogen) elektronischen Temperatur-Ausgleich (usw.) Teiler vor, der MBT-303-A rejustor benannte (Re-justierbaren Widerstand). Das neue [... ]
- August 16, 2007
DisplayPort Befolgung-Test-Lösung - Agilent
Agilent stellte vor kurzem seine DisplayPort Quellbefolgungtestlösung vor. Die neue Lösung wird für Gebrauch durch DisplayPort Befolgungtest bestimmt [... ]
- August 15, 2007
HVMOS Extraktion-Paket für IC-CAP Software-Plattform - Agilent
Agilent hat sein neues HVMOS Extraktionpaket, eine Parameterextraktionlösung für Hochspannungs (Hochspg) ergänzenden Metalloxidhalbleiter freigegeben [... ]
- August 15, 2007
Neue PXIT Module für optische Lautsprecherempfänger-Herstellung - Agilent
Agilent führte seine neuen PXIT Module für optische Lautsprecherempfängerherstellung ein und bot eine kombinierte Bitfehlerhäufigkeit Prüfvorrichtung (BERT) und Digital an [... ]
- August 8, 2007
Hochauflösendes Nanopositioning und Abtastung-System - P-733.3CD - Physik Instrumente
Physik Instrumente (PU) stellte sein neues P-733.3CD, ein hochauflösendes XYZ nano-in Position bringenu. ablichtendes System vor, das für hohe Auflösung Mikroskopie, Materialien bestimmt war [... ]
- August 3, 2007
iVista hochauflösendes Digital Mikroskop für die Oblate-Niveau Prüfung - SUSS MicroTec
SUSS MicroTec hat das iVista hochauflösende Digital Mikroskop ausgestoßen und hohe Auflösung und die Software-Werkzeuge geliefert, die für Oblate-Niveau prüfenanwendungen notwendig sind [... ]
- Juli 23, 2007
Agilent WiMAX Optimierung Lösung für IEEE 802.16e-2005 (bewegliches WiMAX)
Agilent verkündete seine WiMAX Optimierung Lösung für IEEE 802.16e-2005 (alias bewegliches WiMAX oder IEEE 802.16e), basiert auf [... ]
- Juni 29, 2007
Verigy V93000 Nanoelectronics Lösung für 65nm und kleinere Digital ICs
Verigy stellte die V93000 Nanoelectronics Digital Lösung vor und stellte genaue Diagnose- und parametrische Daten für strukturelle und Funktionsprüfung für Oblate zur Verfügung [... ]
- Juni 27, 2007
Signal-Vollständigkeit Überprüfung Toolkit für vorgerückte Plattform des Konstruktionssystem-(ADS) EDA - Agilent
Agilent verkündete den integrierten Überprüfung Toolkit für Signal-Vollständigkeit Design, denn Gebrauch mit vorgerücktem Konstruktionssystem Agilents (ADS) EDA [... ]
- Juni 26, 2007

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